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国家标准计划《半导体单晶晶向测定方法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所有色金属技术经济研究院有限责任公司浙江金瑞泓科技股份有限公司有研国晶辉新材料有限公司浙江海纳半导体股份有限公司哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司云南驰宏国际锗业有限公司北京通美晶体技术股份有限公司浙江旭盛电子有限公司中国电子科技集团公司第十三研究所丹东新东方晶体仪器有限公司国标(北京)检验认证有限公司新美光(苏州)半导体科技有限公司

主要起草人 许蓉刘立娜李素青庞越马春喜张海英林泉尚鹏麻皓月潘金平廖吉伟崔丁方任殿胜王元立陈跃骅孙聂枫赵松彬王书明李晓岚史艳磊赵丽丽夏秋良

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 1555-2009 (全部代替)

半导体单晶晶向测定方法
当前标准计划

20211950-T-469 已发布

半导体单晶晶向测定方法

基础信息

计划号
20211950-T-469
制修订
修订
项目周期
18个月
下达日期
2021-07-21
标准类别
方法
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

许蓉
刘立娜
马春喜
张海英
麻皓月
潘金平
任殿胜
王元立
赵松彬
王书明
赵丽丽
夏秋良
李素青
庞越
林泉
尚鹏
廖吉伟
崔丁方
陈跃骅
孙聂枫
李晓岚
史艳磊

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