注册

国家标准计划《表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法》由 TC608(全国表面化学分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国科学院。 拟实施日期:发布后10个月正式实施。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所

主要起草人 马农农陈潇何友琴王东雪

目录

项目进度

当前标准计划

20121404-T-469 已发布

表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
已发布标准

基础信息

计划号
20121404-T-469
制修订
制定
项目周期
36个月
下达日期
2013-02-18
标准类别
方法
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
执行单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

起草单位

起草人

马农农
陈潇
何友琴
王东雪

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 12406:2010。

采标中文名称:表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法。

相近标准(计划)