注册

国家标准《半导体集成电路 模拟开关测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所圣邦微电子股份有限公司西北工业大学

主要起草人 张冰李雷陈志培闫辉朱华黄德东

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 14028-1992 (全部代替)

半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
当前标准

GB/T 14028-2018 现行

半导体集成电路 模拟开关测试方法

基础信息

标准号
GB/T 14028-2018
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
全部代替标准
GB/T 14028-1992
标准类别
方法
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

张冰
李雷
朱华
黄德东
陈志培
闫辉

相近标准(计划)