国家标准 - 全国标准信息公共服务平台

国家标准《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位上海元件五厂。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 14031-1992 现行

半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

基础信息

标准号: GB/T 14031-1992
发布日期: 1992-12-17
实施日期: 1993-08-01

标准类别

方法

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.200

31 电子学

31.200 集成电路、微电子学

归口单位

全国集成电路标准化技术委员会

执行单位

全国集成电路标准化技术委员会

主管部门

工业和信息化部（电子）

起草单位

上海元件五厂

相近标准(计划)

GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

SJ/T 10250-1991 半导体集成电路CB565型模拟锁相环详细规范

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

SJ/T 10804-2000 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理

SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理

GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理

GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

版权所有侵权必究
主管：国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
主办：国家市场监督管理总局国家标准技术审评中心
技术支持：北京中标赛宇科技有限公司
支持电话：010-82261036
备案号：京ICP备18022388号-1