国家标准《MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法》 由TC336（全国微机电技术标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 北京大学 、中机生产力促进中心 、北京必创科技股份有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、中北大学 。

主要起草人 张威 、程红兵 、陈得民 、李海斌 、崔波 、石云波 、朱悦 。