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国家标准《MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 北京大学中机生产力促进中心有限公司北京智芯传感科技有限公司昆山昆博智能感知产业技术研究院有限公司厦门光莆电子股份有限公司江门市润宇传感器科技有限公司宁波志伦电子有限公司广州奥松电子股份有限公司华东光电集成器件研究所深圳市美思先端电子有限公司南京高华科技股份有限公司中国科学院微电子研究所湖南国天电子科技有限公司南京沃天科技股份有限公司广州广电计量检测股份有限公司武汉飞恩微电子有限公司深圳安培龙科技股份有限公司昆山传感器测控技术有限公司

主要起草人 张威顾枫李根梓陈广忠李宋张亚婷张良陈立国林瑞梅李树成茅曙张宾王鹏李晓波许宙王玮冰陈路高峰明志茂曹万陈君杰王冰

目录

标准状态

当前标准

GB/T 42191-2023 现行

MEMS压阻式压力敏感器件性能试验方法

基础信息

标准号
GB/T 42191-2023
发布日期
2023-05-23
实施日期
2023-09-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L59
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国微机电技术标准化技术委员会
执行单位
全国微机电技术标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

张威
顾枫
李宋
张亚婷
林瑞梅
李树成
王鹏
李晓波
陈路
高峰
陈君杰
王冰
李根梓
陈广忠
张良
陈立国
茅曙
张宾
许宙
王玮冰
明志茂
曹万

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