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国家标准《微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 中国科学院地质与地球物理研究所

主要起草人 曾荣树徐文东毛骞马玉光

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 20726-2006 (全部代替)

半导体探测器X射线能谱仪通则
当前标准

GB/T 20726-2015 现行

微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
修订计划

20241618-T-469 正在起草

微束分析 扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法

基础信息

标准号
GB/T 20726-2015
发布日期
2015-10-09
实施日期
2016-09-01
全部代替标准
GB/T 20726-2006
标准类别
产品
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.99
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.99 有关分析化学的其他标准
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

曾荣树
徐文东
毛骞
马玉光

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