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国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 中国科学院地质与地球物理研究所

主要起草人 曾荣树徐文东马玉光范逛等

目录

标准状态

当前标准

GB/T 20726-2006 废止

半导体探测器X射线能谱仪通则
被以下标准替代

GB/T 20726-2015 (全部代替)

微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法

基础信息

标准号
GB/T 20726-2006
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
废止日期
2016-09-01
标准类别
方法
中国标准分类号
N53
国际标准分类号
71.040.99
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.99 有关分析化学的其他标准
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 15632:2002。

采标中文名称:半导体探测器X射线能谱仪通则。

起草单位

起草人

曾荣树
徐文东
马玉光
范逛

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