国家标准《硅、锗单晶电阻率测定 直流两探针法》 由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。
主要起草单位 上海有色金属工业总公司 。
GB 1551-1979 （全部代替）
GB 5253-1985 （全部代替）
GB/T 1551-1995 废止
GB/T 1551-2009 （全部代替）
本标准非等效采用ITU国际标准：ASTM F397:1988。
采标中文名称:。
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