国家标准《锗单晶电阻率直流四探针测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 南京中锗科技股份有限公司 、北京国晶辉红外光学科技有限公司 、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 。
主要起草人 张莉萍 、焦欣文 、王学武 、普世坤 。
GB/T 26074-2010 现行