国家标准《半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分：柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第五十五研究所 、中国电子技术标准化研究院 、浙江清华柔性电子技术研究院 、工业和信息化部电子第五研究所 、广东南海启明光大科技有限公司 、江苏纳美达光电科技有限公司 、深圳意杰新技术有限公司 、中国南方电网有限责任公司超高压输电公司电力科研院 、浙江骐盛电子有限公司 、昆山一鼎工业科技有限公司 、爱利彼半导体设备(上海)有限公司 。

主要起草人 高杨 、佘茜玮 、赵先恒 、薛爱杰 、周廷宝 、薛春宝 、闫美存 、何志峰 、杨晓峰 、牛皓 、赵昊 、黄良辉 、刘腾蛟 、宫立霞 、王振 、唐宗飘 、周爱和 、肖学才 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62951-6:2019。

采标中文名称:半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分：柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法。