国家标准计划《300 mm硅片表面纳米形貌的评价方法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 山东有研艾斯半导体材料有限公司 、上海新昇半导体科技有限公司 、浙江丽水中欣晶圆半导体科技有限公司 、金瑞泓微电子(嘉兴)有限公司 、中环领先半导体材料有限公司 。
20250148-T-469 正在起草