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国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院中国电子科技集团公司第二十四研究所安徽大华半导体科技有限公司中国电子科技集团公司第十三研究所广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司中国电子科技集团公司第五十八研究所中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所成都振芯科技股份有限公司

主要起草人 刘芳周俊杨晓强纵雷刘凡霍玉柱林瑜攀陆坚梁希王会影

目录

标准状态

当前标准

GB/T 42975-2023 现行

半导体集成电路 驱动器测试方法

基础信息

标准号
GB/T 42975-2023
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

刘芳
周俊
刘凡
霍玉柱
梁希
王会影
杨晓强
纵雷
林瑜攀
陆坚

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