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国家标准《硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所有色金属技术经济研究院有限责任公司有研半导体材料有限公司广州市昆德科技有限公司青海芯测科技有限公司浙江海纳半导体有限公司乐山市产品质量监督检验所中国计量科学研究院亚洲硅业(青海)股份有限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司开化县检验检测研究院南京国盛电子有限公司青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司义乌力迈新材料有限公司

主要起草人 刘立娜刘兆枫何烜坤刘刚杨素心孙燕高英王昕梁洪潘金平楼春兰宗冰李慎重潘文宾蔡丽艳王志强皮坤林

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标准状态

基础信息

标准号
GB/T 1551-2021
发布日期
2021-05-21
实施日期
2021-12-01
全部代替标准
GB/T 1551-2009
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准化管理委员会

代替以下标准

全部代替 GB/T 1551-2009

起草单位

起草人

刘立娜
刘兆枫
杨素心
孙燕
梁洪
潘金平
李慎重
潘文宾
皮坤林
何烜坤
刘刚
高英
王昕
楼春兰
宗冰
蔡丽艳
王志强

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