国家标准计划《表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准》由 TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行 ，主管部门为国家标准化管理委员会。 拟实施日期：发布后6个月正式实施。
主要起草单位 中山大学 、广东工业大学 、暨南大学 。
主要起草人 龚力 、杨慕紫 、陈瑜 、张浩 、谢伟广 、谢方艳 、丁喜冬 、陈建 。
20213226-T-469 已发布
| 71 化工技术 |
| 71.040 分析化学 |
| 71.040.40 化学分析 |
本标准等同采用ISO国际标准：ISO 13083:2015。
采标中文名称:表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准。
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