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国家标准《表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 中国计量科学研究院上海市计量测试技术研究院西安交通大学

主要起草人 李伟蔡潇雨李适杨树明程碧瑶魏佳斯高思田

目录

标准状态

当前标准

GB/T 42659-2023 现行

表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准

基础信息

标准号
GB/T 42659-2023
发布日期
2023-08-06
实施日期
2024-03-01
标准类别
方法
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会
主管部门
国家标准化管理委员会

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO 11952:2019。

采标中文名称:表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准。

起草单位

起草人

李伟
蔡潇雨
程碧瑶
魏佳斯
李适
杨树明
高思田

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