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国家标准计划《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》由 TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布即实施。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院中国汽车工程研究院股份有限公司安徽中认倍佳科技有限公司厦门海诺达科学仪器有限公司深圳市北测标准技术服务有限公司北京智芯微电子科技有限公司天津先进技术研究院工业和信息化部电子第五研究所中国家用电器研究院重庆邮电大学北京星河亿海科技有限公司浙江诺益科技有限公司中国信息通信研究院重庆仕益产品质量检测有限责任公司北京邮电大学东莞职业技术学院

主要起草人 付君崔强黄雪梅乔彦彬吴建飞方文啸朱赛亓新李旸梁吉明谢玉章张红升熊伟杰张艳艳周昕郑益民王雪熊璞张金玲麦强康志能陈梅双

目录

项目进度

当前标准计划

20204063-T-339 已发布

集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法

基础信息

计划号
20204063-T-339
制修订
制定
项目周期
18个月
下达日期
2020-11-19
标准类别
方法
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
执行单位
全国集成电路标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

付君
崔强
吴建飞
方文啸
李旸
梁吉明
熊伟杰
张艳艳
王雪
熊璞
康志能
陈梅双
黄雪梅
乔彦彬
朱赛
亓新
谢玉章
张红升
周昕
郑益民
张金玲
麦强

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62132-2:2010。

采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法。

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