国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、扬芯科技（深圳）有限公司 、北京智芯微电子科技有限公司 、天津先进技术研究院 、厦门海诺达科学仪器有限公司 、工业和信息化部电子第五研究所 、上海电器设备检测所有限公司 、厦门市产品质量监督检验院 、华东师范大学 、中国家用电器研究院 、北京航空航天大学 、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司 、中国计量大学 、中国合格评定国家认可中心 、深圳市恒创技术有限公司 、中国汽车工程研究院股份有限公司 、中山大学 、北京高搏电磁兼容技术有限公司 、河南省电子信息产品质量检验技术研究院 、中家院（北京）检测认证有限公司 、上海机动车检测认证技术研究中心有限公司 、重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司 。

主要起草人 付君 、程江河 、陈梅双 、崔强 、杨红波 、吴建飞 、方文啸 、孙云龙 、李焕然 、邵鄂 、梁吉明 、邢琳 、廉鹏飞 、亓新 、张艳艳 、阎照文 、李齐 、李燕 、刘佳 、杨志奇 、谭泽强 、高新杰 、李博 、弓兆博 、王晓迪 、伍强 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC TS 62132-9:2014。

采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法。