国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院 、工业和信息化部电子第五研究所 、深圳市北测标准技术服务有限公司 、天津先进技术研究院 、北京智芯微电子科技有限公司 、浙江诺益科技有限公司 、扬芯科技（深圳）有限公司 、广州市诚臻电子科技有限公司 、北京无线电计量测试研究所 、厦门海诺达科学仪器有限公司 、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司 、中国家用电器研究院 、中国合格评定国家认可中心 、北京芯可鉴科技有限公司 、东南大学 、中国汽车工程研究院股份有限公司 、广东省科学院电子电器研究所 、青岛金汇源电子有限公司 、联想（北京）有限公司 、西安优来测科技有限公司 、中国电力科学研究院有限公司 、广州致远电子有限公司 。

主要起草人 付君 、崔强 、方文啸 、刘小军 、吴建飞 、乔彦彬 、郑益民 、叶畅 、杨红波 、李楠 、刘星汛 、梁吉明 、白云 、张艳艳 、朱赛 、靳冬 、刘佳 、陈燕宁 、邵鄂 、周香 、黄雪梅 、郑泓 、李德鹏 、吕飞燕 、刘易勇 、贺伟 、陈勇志 、陈梅双 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-8:2012。

采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法。