注册

国家标准计划《硅片电阻率测定 扩展电阻探针法》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 南京国盛电子有限公司宁波立立电子股份有限公司

主要起草人 马林宝骆红刘培东谭卫东吕立平

目录

项目进度

修订了以下标准

GB/T 6617-1995 (全部代替)

硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
当前标准计划

20065629-T-469 已发布

硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

基础信息

计划号
20065629-T-469
制修订
修订
项目周期
24个月
下达日期
2006-07-05
标准类别
方法
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
29 电气工程
29.045 半导体材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

马林宝
骆红
吕立平
刘培东
谭卫东

相近标准(计划)