国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC3(全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 江苏联瑞新材料股份有限公司 、国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 、汉高华威电子(连云港)有限公司 。
主要起草人 曹家凯 、吕福发 、阮建军 、王松宪 、姜兵 、封丽娟 、李冰 、陈进 、夏永生 、戴春明 、马涛 。
GB/T 37406-2019 现行
31 电子学 |
31.030 电子技术专用材料 |