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国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC3(全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 江苏联瑞新材料股份有限公司国家硅材料深加工产品质量监督检验中心汉高华威电子(连云港)有限公司

主要起草人 曹家凯吕福发阮建军王松宪姜兵封丽娟李冰陈进夏永生戴春明马涛

目录

标准状态

当前标准

GB/T 37406-2019 现行

电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法

基础信息

标准号
GB/T 37406-2019
发布日期
2019-05-10
实施日期
2019-12-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31.030
31 电子学
31.030 电子技术专用材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

曹家凯
吕福发
姜兵
封丽娟
夏永生
戴春明
阮建军
王松宪
李冰
陈进
马涛

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