注册

国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 国家硅材料深加工产品质量监督检验中心江苏联瑞新材料股份有限公司汉高华威电子有限公司

主要起草人 封丽娟李冰陈进夏永生曹家凯吕福发阮建军王松宪

目录

标准状态

基础信息

标准号
GB/T 36655-2018
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31.030
31 电子学
31.030 电子技术专用材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

相近标准(计划)