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国家标准《锗晶体缺陷图谱》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)、全国有色金属标准化技术委员会联合归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 云南临沧鑫圆锗业股份有限公司有研光电新材料有限责任公司云南中科鑫圆晶体材料有限公司中锗科技有限公司广东先导稀材股份有限公司云南东昌金属加工有限公司有色金属技术经济研究院

主要起草人 普世坤惠峰董汝昆冯德伸柯尊斌尹士平朱刘李素青

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 8756-1988 (全部代替)

锗晶体缺陷图谱
当前标准

GB/T 8756-2018 现行

锗晶体缺陷图谱

基础信息

标准号
GB/T 8756-2018
发布日期
2018-12-28
实施日期
2019-07-01
全部代替标准
GB/T 8756-1988
标准类别
基础
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
29 电气工程
29.045 半导体材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会全国有色金属标准化技术委员会
副归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

普世坤
惠峰
柯尊斌
尹士平
董汝昆
冯德伸
朱刘
李素青

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