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国家标准《锗晶体缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。

主要起草单位北京有色金属研究总院。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 8756-1988 废止

锗晶体缺陷图谱

被以下标准替代

GB/T 8756-2018 （全部代替）

锗晶体缺陷图谱

基础信息

标准号: GB/T 8756-1988
发布日期: 1988-02-25
实施日期: 1989-02-01
废止日期: 2019-07-01
上次复审日期: 2016-12-31
上次复审结论: 修订

标准类别

基础

中国标准分类号

H24

国际标准分类号

77.040.30

77 冶金

77.040 金属材料试验

77.040.30 金属材料化学分析

归口单位

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门

国家标准委

采标情况

本标准非等效采用ITU国际标准：ASTM F389:1984。

采标中文名称:。

起草单位

北京有色金属研究总院

相近标准(计划)

GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱

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