国家标准《硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 有研半导体材料有限公司 、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司 、中国计量科学研究院 、浙江省硅材料质量检验中心 、广州市昆德科技有限公司 、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 、天津市环欧半导体材料技术有限公司 、北京合能阳光新能源技术有限公司 。
主要起草人 曹孜 、孙燕 、黄黎 、赵而敬 、徐红骞 、高英 、石宇 、楼春兰 、王昕 、张雪囡 、林清香 、刘卓 、肖宗杰 。
GB/T 26068-2010 (全部代替)
GB/T 26068-2018 现行
77 冶金 |
77.040 金属材料试验 |