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国家标准《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 英利集团有限公司中国电子技术标准化研究院江西赛维LDK太阳能高科技有限公司泰州中来光电科技有限公司晋能清洁能源科技有限公司镇江仁德新能源科技有限公司天津英利新能源有限公司

主要起草人 李锋李英叶段青春张伟吴翠姑冯亚彬裴会川程小娟唐骏

目录

标准状态

当前标准

GB/T 37051-2018 现行

太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

基础信息

标准号
GB/T 37051-2018
发布日期
2018-12-28
实施日期
2019-04-01
标准类别
方法
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
29 电气工程
29.045 半导体材料
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

李锋
李英叶
吴翠姑
冯亚彬
唐骏
段青春
张伟
裴会川
程小娟

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