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国家标准《表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序》 由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 清华大学中山大学

主要起草人 李展平陈建姚文清谢方艳曹立礼朱永法

目录

标准状态

当前标准

GB/Z 32490-2016 现行

表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序

基础信息

标准号
GB/Z 32490-2016
发布日期
2016-02-24
实施日期
2017-01-01
标准类别
方法
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
执行单位
全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会
主管部门
国家标准化管理委员会

采标情况

本标准等同采用ISO国际标准:ISO/TR 18932:2005。

采标中文名称:表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序。

起草单位

起草人

李展平
陈建
曹立礼
朱永法
姚文清
谢方艳

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