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国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国科学院上海技术物理研究所

主要起草人 丁瑞军梁平治唐红兰陈洪雷曹妩媚殷建军等

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 17444-1998 (全部代替)

红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
当前标准

GB/T 17444-2013 现行

红外焦平面阵列参数测试方法
修订计划

20256150-T-339 正在起草

红外焦平面阵列参数测试方法

基础信息

标准号
GB/T 17444-2013
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
上次复审日期
2025-10-31
上次复审结论
修订
全部代替标准
GB/T 17444-1998
标准类别
方法
中国标准分类号
L52
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

丁瑞军
梁平治
曹妩媚
殷建军
唐红兰
陈洪雷

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