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红外焦平面阵列参数测试方法

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
国家标准计划 修订 推荐性

国家标准计划《红外焦平面阵列参数测试方法》由 339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国科学院上海技术物理研究所 。

目录

项目进度

  1. 起草
  2. 征求意见
  3. 审查
  4. 批准
  5. 发布
修订了以下标准

GB/T 17444-2013 （全部代替）

红外焦平面阵列参数测试方法
当前标准计划

20256150-T-339 正在起草

红外焦平面阵列参数测试方法

基础信息

计划号
20256150-T-339
制修订
修订
项目周期
16个月
下达日期
2025-10-31
标准类别
方法
国际标准分类号
31.260
31 电子学
31.260 光电子学、激光设备
归口单位
工业和信息化部（电子）
执行单位
工业和信息化部（电子）
主管部门
工业和信息化部（电子）

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所

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