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国家标准《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位中国科学院上海技术物理研究所。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 17444-1998 废止

红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

被以下标准替代

GB/T 17444-2013 （全部代替）

红外焦平面阵列参数测试方法

基础信息

标准号: GB/T 17444-1998
发布日期: 1998-07-30
实施日期: 1999-05-01
废止日期: 2014-04-15
上次复审日期: 2012-10-09
上次复审结论: 继续有效

标准类别

基础

中国标准分类号

L52

国际标准分类号

31.260

31 电子学

31.260 光电子学、激光设备

归口单位

工业和信息化部（电子）

执行单位

工业和信息化部（电子）

主管部门

工业和信息化部（电子）

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所

相近标准(计划)

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