国家标准《硅片弯曲度测试方法》 由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口 ，主管部门为国家标准委。
主要起草单位 洛阳单晶硅厂 。
GB 6619-1986 （全部代替）
GB/T 6619-1995 废止
GB/T 6619-2009 （全部代替）
本标准等效采用ITU国际标准：ASTM 534:1991。
采标中文名称:。
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