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国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位上海科技大学。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 5594.8-1985 废止

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定

被以下标准替代

GB/T 5594.8-2015 （全部代替）

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

基础信息

标准号: GB/T 5594.8-1985
发布日期: 1985-11-27
实施日期: 1986-12-01
废止日期: 2016-01-01

标准类别: 方法
中国标准分类号: L32
归口单位: 工业和信息化部（电子）
执行单位: 工业和信息化部（电子）
主管部门: 工业和信息化部（电子）

起草单位

上海科技大学

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