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国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 上海科技大学

目录

标准状态

当前标准

GB/T 5594.8-1985 废止

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
被以下标准替代

GB/T 5594.8-2015 (全部代替)

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

基础信息

标准号
GB/T 5594.8-1985
发布日期
1985-11-27
实施日期
1986-12-01
废止日期
2016-01-01
标准类别
方法
中国标准分类号
L32
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

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