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国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位天津大学。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 5594.2-1985 现行

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法

修订计划

20240190-T-339 正在起草

电子陶瓷测试方法第2部分：泊松比

基础信息

标准号: GB/T 5594.2-1985
发布日期: 1985-11-27
实施日期: 1986-12-01

标准类别: 方法
中国标准分类号: L32
归口单位: 工业和信息化部（电子）
执行单位: 工业和信息化部（电子）
主管部门: 工业和信息化部（电子）

起草单位

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