国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 中国电子科技集团公司第十二研究所 、中国电子技术标准化研究院 、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司 。
主要起草人 江树儒 、曹易 、高永泉 、翟文斌 。
GB/T 5594.8-1985 (全部代替)
GB/T 5594.8-2015 现行