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国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子科技集团公司第十二研究所中国电子技术标准化研究院江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司

主要起草人 江树儒曹易高永泉翟文斌

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 5594.8-1985 (全部代替)

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
当前标准

GB/T 5594.8-2015 现行

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

基础信息

标准号
GB/T 5594.8-2015
发布日期
2015-05-15
实施日期
2016-01-01
全部代替标准
GB/T 5594.8-1985
标准类别
方法
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31-030
31 电子学
31.030 电子技术专用材料
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

江树儒
曹易
高永泉
翟文斌

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