注册

膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用能力批准程序）

Blank detailspecification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the capability approval procedures
国家标准 推荐性 现行

国家标准《膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用能力批准程序）》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 电子部标准化研究所 。

目录

标准状态

  1. 发布
  2. 实施
  3. 废止
当前标准

GB/T 16466-1996 现行

膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用能力批准程序）

基础信息

标准号
GB/T 16466-1996
发布日期
1996-07-09
实施日期
1997-01-01
标准类别
产品
中国标准分类号
L55
国际标准分类号
31.200
31 电子学
31.200 集成电路、微电子学
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部（电子）

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 748-22-1:1991。

采标中文名称:。

起草单位

电子部标准化研究所

相近标准(计划)

GB/T 16465-1996  膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用能力批准程序）
GB/T 13062-2018  半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）
GB/T 11498-2018  半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）
GB/T 8976-1996  膜集成电路和混合膜集成电路总规范
GB/T 12842-1991  膜集成电路和混合膜集成电路术语
GB/T 43035-2023  半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
GB/T 15138-1994  膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
SJ/T 10707-1996  石英晶体元件-IECQ规范 第2部分:分规范-能力批准 第一篇:空白详细规范
20233686-T-339  半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第八篇：集成电路静态读/写存储器空白详细规范
20233687-T-339  半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第六篇：微处理器空白详细规范
  • 版权所有 侵权必究
  • 主管：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
  • 主办：国家市场监督管理总局国家标准技术审评中心
  • 技术支持：北京中标赛宇科技有限公司
  • 支持电话：010-82261036
  • 备案号：京ICP备09001239号-6
全文
标准解读
意见建议