注册

X射线光电子能谱仪检定方法

Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
国家标准 推荐性 现行

国家标准《X射线光电子能谱仪检定方法》 由TC608（全国表面化学分析标准化技术委员会）归口 ，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 福建光电有限公司 、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室 。

主要起草人 王水菊 、时海燕 、丁训民 。

目录

标准状态

  1. 发布
  2. 实施
  3. 废止
当前标准

GB/T 25184-2010 现行

X射线光电子能谱仪检定方法

基础信息

标准号
GB/T 25184-2010
发布日期
2010-09-26
实施日期
2011-08-01
标准类别
方法
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
71 化工技术
71.040 分析化学
71.040.40 化学分析
归口单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
执行单位
全国表面化学分析标准化技术委员会
主管部门
中国科学院

起草单位

福建光电有限公司
厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室

起草人

王水菊
时海燕
丁训民

相近标准(计划)

SJ/T 10714-1996  检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
GB/T 21006-2007  表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 22571-2017  表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
GB/T 35158-2017  俄歇电子能谱仪检定方法
GB/T 11685-2003  半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
20232750-T-469  表面化学分析 X射线光电子能谱分析方法通则
  • 版权所有 侵权必究
  • 主管：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
  • 主办：国家市场监督管理总局国家标准技术审评中心
  • 技术支持：北京中标赛宇科技有限公司
  • 支持电话：010-82261036
  • 备案号：京ICP备18022388号-1
全文
意见建议