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国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)、全国有色金属标准化技术委员会联合归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会

主要起草单位 北京有色金属研究总院

主要起草人 王彤涵

目录

标准状态

代替了以下标准

GB/T 4326-1984 (全部代替)

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
当前标准

GB/T 4326-2006 现行

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
修订计划

20233951-T-610 正在起草

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

基础信息

标准号
GB/T 4326-2006
发布日期
2006-07-18
实施日期
2006-11-01
全部代替标准
GB/T 4326-1984
标准类别
方法
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040.01
77 冶金
77.040 金属材料试验
77.040.01 金属材料试验综合
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会全国有色金属标准化技术委员会
副归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准化管理委员会

起草单位

起草人

王彤涵

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