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国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)、全国有色金属标准化技术委员会联合归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委

主要起草单位 有研国晶辉新材料有限公司有色金属技术经济研究院有限责任公司中国电子科技集团公司第十三研究所中国电子科技集团公司第四十六研究所广东先导微电子科技有限公司中国科学院半导体研究所晶澳太阳能科技股份有限公司大庆溢泰半导体材料有限公司深圳大学

主要起草人 林泉王博马远飞李素青王阳刘国龙周铁军王宇黄文文王金灵刘京明韩庆辉赵中阳胡世鹏莫杰朱晨阳

目录

标准状态

即将替代以下标准

GB/T 4326-2006 (全部代替)

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
当前标准

GB/T 4326-2025 即将实施

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

基础信息

标准号
GB/T 4326-2025
发布日期
2025-10-31
实施日期
2026-05-01
全部代替标准
GB/T 4326-2006
标准类别
方法
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040
77 冶金
77.040 金属材料试验
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会全国有色金属标准化技术委员会
副归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
执行单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会
主管部门
国家标准委

起草单位

起草人

林泉
王博
王阳
刘国龙
黄文文
王金灵
赵中阳
胡世鹏
马远飞
李素青
周铁军
王宇
刘京明
韩庆辉
莫杰
朱晨阳

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