国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)、全国有色金属标准化技术委员会联合归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
主要起草单位 有研国晶辉新材料有限公司 、有色金属技术经济研究院有限责任公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、中国电子科技集团公司第四十六研究所 、广东先导微电子科技有限公司 、中国科学院半导体研究所 、晶澳太阳能科技股份有限公司 、大庆溢泰半导体材料有限公司 、深圳大学 。
主要起草人 林泉 、王博 、马远飞 、李素青 、王阳 、刘国龙 、周铁军 、王宇 、黄文文 、王金灵 、刘京明 、韩庆辉 、赵中阳 、胡世鹏 、莫杰 、朱晨阳 。
GB/T 4326-2006 (全部代替)
GB/T 4326-2025 即将实施
| 77 冶金 |
| 77.040 金属材料试验 |