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国家标准《半导体器件 第14-12部分:半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 之江实验室 、浙江迈镝生物科技有限公司 、德玛克(浙江)精工科技有限公司 、国科大杭州高等研究院 、山东华光光电子股份有限公司 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、浙江大学 、中国计量科学研究院 、中国电子技术标准化研究院 、浙江大学医学院附属邵逸夫医院 、公安部第三研究所 、中科微感(宁波)科技有限公司 、中绍宣科技集团有限公司 、长沙钛合电子设备有限公司 、深圳市海曼科技股份有限公司 、河南驰诚电气股份有限公司 、珠海芯曜工研科技有限公司 、深圳市瑞之辰科技有限公司 、北京博视像元科技有限公司 、深圳市斯科尔科技股份有限公司 。

主要起草人 王镝 、崔瑶轩 、曹耀龙 、张建锋 、朱贺 、李振廷 、王忠新 、张芬妮 、钟鑫 、孙志学 、吴德华 、徐英莹 、吴海 、刘秀娟 、沈文锋 、刘彩霞 、王亚飞 、曾勇刚 、黄永锋 、班茜茜 、徐卫锋 、时学瑞 、李金鹏 、周小华 、杨军超 、蔡壮钦 。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 20521.12-2026 即将实施

半导体器件 第14-12部分:半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法

基础信息

标准号
GB/T 20521.12-2026
发布日期
2026-08-28
实施日期
2027-03-01
标准计划
20250936-T-339
标准类别
基础
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

王镝
崔瑶轩
朱贺
李振廷
钟鑫
孙志学
吴海
刘秀娟
王亚飞
曾勇刚
徐卫锋
时学瑞
杨军超
蔡壮钦
曹耀龙
张建锋
王忠新
张芬妮
吴德华
徐英莹
沈文锋
刘彩霞
黄永锋
班茜茜
李金鹏
周小华

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