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国家标准《半导体器件 第14-12部分:半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

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主要起草人 王镝崔瑶轩曹耀龙张建锋朱贺李振廷王忠新张芬妮钟鑫孙志学吴德华徐英莹吴海刘秀娟沈文锋刘彩霞王亚飞曾勇刚黄永锋班茜茜徐卫锋时学瑞李金鹏周小华杨军超蔡壮钦

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标准状态

当前标准

GB/T 20521.12-2026 即将实施

半导体器件 第14-12部分:半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法

基础信息

标准号
GB/T 20521.12-2026
发布日期
2026-08-28
实施日期
2027-03-01
标准计划
20250936-T-339
标准类别
基础
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

王镝
崔瑶轩
朱贺
李振廷
钟鑫
孙志学
吴海
刘秀娟
王亚飞
曾勇刚
徐卫锋
时学瑞
杨军超
蔡壮钦
曹耀龙
张建锋
王忠新
张芬妮
吴德华
徐英莹
沈文锋
刘彩霞
黄永锋
班茜茜
李金鹏
周小华

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