国家标准计划《半导体器件 第14-11部分:半导体传感器 用于测量紫外线、照度和温度的集成声表面波传感器的测试方法》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、广东工业大学 、中国科学院微电子研究所 、电子科技大学 。
20256393-T-339 正在起草
| 31 电子学 |
| 31.080 半导体分立器件 |
| 31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60747-14-11:2021。
采标中文名称:半导体器件 第14-11部分:半导体传感器 用于测量紫外线、照度和温度的集成声表面波传感器的测试方法。