国家标准计划《半导体器件 第14-11部分：半导体传感器 基于声表面波的紫外线、可见光及温度集成传感器测试方法》由 TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。 拟实施日期：发布后6个月正式实施。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所 、广东工业大学 、湖南大学 、西安交通大学 、上海航天技术基础研究所 、电子科技大学 、兰州交通大学 、四川铁道职业学院 、东莞市惟思德科技发展有限公司 、广州智广电子科技有限公司 、上海市质量监督检验技术研究院有限公司 、浙江省质量科学研究院 、广州博冠光电科技股份有限公司 。

主要起草人 黄钦文 、何春华 、周剑 、焦斌斌 、杜林 、涂程 、汪再兴 、杨少华 、张欣 、苏伟 、曾雯莲 、毛久兵 、来萍 、韦覃如 、杨晓锋 、章文福 、叶钧戊 、俞敏 、倪华 、蒋伟 、楼水能 、雷波 。

本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-14-11:2021。

采标中文名称:半导体器件 第14-11部分：半导体传感器 用于测量紫外线、照度和温度的集成声表面波传感器的测试方法。