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国家标准计划《半导体器件 第14-12部分: 半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

主要起草单位 之江实验室浙江迈镝生物科技有限公司德玛克(浙江)精工科技有限公司国科大杭州高等研究院山东华光光电子股份有限公司中国电子科技集团公司第十三研究所浙江大学中国计量科学研究院中国电子技术标准化研究院浙江大学医学院附属邵逸夫医院公安部第三研究所中科微感(宁波)科技有限公司中绍宣科技集团有限公司长沙钛合电子设备有限公司深圳市海曼科技股份有限公司河南驰诚电气股份有限公司珠海芯曜工研科技有限公司深圳市瑞之辰科技有限公司北京博视像元科技有限公司深圳市斯科尔科技股份有限公司

主要起草人 王镝崔瑶轩曹耀龙张建锋朱贺李振廷王忠新张芬妮钟鑫孙志学吴德华徐英莹吴海刘秀娟沈文锋刘彩霞王亚飞曾勇刚黄永锋班茜茜徐卫锋时学瑞李金鹏周小华杨军超蔡壮钦

目录

项目进度

当前标准计划

20250936-T-339 正在批准

半导体器件 第14-12部分: 半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法

基础信息

计划号
20250936-T-339
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2025-03-27
标准类别
基础
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

起草人

王镝
崔瑶轩
朱贺
李振廷
钟鑫
孙志学
吴海
刘秀娟
王亚飞
曾勇刚
徐卫锋
时学瑞
杨军超
蔡壮钦
曹耀龙
张建锋
王忠新
张芬妮
吴德华
徐英莹
沈文锋
刘彩霞
黄永锋
班茜茜
李金鹏
周小华

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