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国家标准计划《半导体器件 第14-12部分: 半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 之江实验室中国电子科技集团公司第十三研究所德玛克(浙江)精工科技有限公司中国计量科学研究院中国电子技术标准化研究院中科微感(宁波)科技有限公司

目录

项目进度

当前标准计划

20250936-T-339 正在起草

半导体器件 第14-12部分: 半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法

基础信息

计划号
20250936-T-339
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2025-03-27
标准类别
方法
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

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