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国家标准计划《半导体器件 通用鉴定指南 第2部分:可靠性鉴定中任务剖面的概念》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 之江实验室中国电子科技集团公司第十三研究所上海燧原科技有限公司威凯检测技术有限公司中科计算技术创新研究院杭州傲芯科技有限公司深圳市恒运昌真空技术有限公司工业和信息化部电子第五研究所西安电力电子技术研究所有限公司

目录

项目进度

当前标准计划

20242754-T-339 正在起草

半导体器件 通用鉴定指南 第2部分:可靠性鉴定中任务剖面的概念

基础信息

计划号
20242754-T-339
制修订
制定
项目周期
16个月
下达日期
2024-08-23
标准类别
基础
国际标准分类号
31.080.01
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部(电子)

起草单位

采标情况

本标准修改采用IEC国际标准:IEC 63287-2:2023。

采标中文名称:半导体器件 可靠性鉴定计划指南 第2部分:任务剖面的概念。

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