国家标准计划《半导体器件 通用鉴定指南 第2部分:可靠性鉴定中任务剖面的概念》由 TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位 之江实验室 、中国电子科技集团公司第十三研究所 、上海燧原科技有限公司 、威凯检测技术有限公司 、中科计算技术创新研究院 、杭州傲芯科技有限公司 、深圳市恒运昌真空技术有限公司 、工业和信息化部电子第五研究所 、西安电力电子技术研究所有限公司 。
20242754-T-339 正在起草
31 电子学 |
31.080 半导体分立器件 |
31.080.01 半导体分立器件综合 |
本标准修改采用IEC国际标准:IEC 63287-2:2023。
采标中文名称:半导体器件 可靠性鉴定计划指南 第2部分:任务剖面的概念。