国家标准计划《半导体晶片近边缘几何形态评价 第2部分:边缘卷曲法(ROA)》由 TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。
主要起草单位 山东有研半导体材料有限公司 、西安奕斯伟材料科技股份有限公司 、天津中环领先材料技术有限公司 、金瑞泓微电子(衢州)有限公司 、浙江丽水中欣晶圆半导体科技有限公司 、广东天域半导体股份有限公司 、深圳中科飞测科技股份有限公司 、云南驰宏国际锗业有限公司 。
主要起草人 宁永铎 、朱晓彤 、于亚迪 、王玥 、张婉婉 、张雪囡 、刘云霞 、徐国科 、吕莹 、徐新华 、丁雄杰 、马砚忠 、陆占清 。
20240496-T-469 已发布
| 77 冶金 |
| 77.040 金属材料试验 |