国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》 由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC3（全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会）执行 ，主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 、江苏联瑞新材料股份有限公司 、汉高华威电子有限公司 。

主要起草人 封丽娟 、李冰 、陈进 、夏永生 、曹家凯 、吕福发 、阮建军 、王松宪 。