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国家标准《半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 厦门市产品质量监督检验院 、中国电子技术标准化研究院 、浙江智菱科技有限公司 、广东省凯诺标准检测有限公司 、杭州英诺维科技有限公司 、湖南汇思光电科技有限公司 、绍兴欧柏斯光电科技有限公司 。

主要起草人 葛莉荭 、刘秀娟 、傅诺毅 、李俊凯 、史园 、吴杜雄 、许子愉 、杨骏捷 、诸鑫炎 。

目录

标准状态

当前标准

GB/T 15651.8-2026 即将实施

半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法

基础信息

标准号
GB/T 15651.8-2026
发布日期
2026-10-30
实施日期
2027-05-01
标准计划
20231206-T-339
标准类别
方法
中国标准分类号
L53
国际标准分类号
31.080.99
31 电子学
31.080 半导体分立器件
31.080.99 其他半导体分立器件
归口单位
工业和信息化部(电子)
执行单位
工业和信息化部(电子)
主管部门
工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60747-5-8:2019。

采标中文名称:半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法。

起草单位

起草人

葛莉荭
刘秀娟
史园
吴杜雄
诸鑫炎
傅诺毅
李俊凯
许子愉
杨骏捷

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