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起草的国家标准

#	标准号	标准中文名称	发布日期	实施日期	标准状态
1	GB/T 35306-2023	硅单晶中碳、氧含量的测定低温傅立叶变换红外光谱法	2023-08-06	2024-03-01	现行
2	GB/T 42676-2023	半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法	2023-08-06	2024-03-01	现行
3	GB/T 42907-2023	硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试非接触涡流感应法	2023-08-06	2024-03-01	现行

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