# | 计划号 | 项目名称 | 制修订 | 计划下达日期 | 项目状态 |
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1 | 20233151-T-339 | 半导体分立器件 第1部分:分规范 | 修订 | 2023-12-28 | 正在批准 |
2 | 20233713-T-339 | 半导体器件 第1部分:总则 | 修订 | 2023-12-28 | 正在批准 |
3 | 20201543-T-339 | 半导体器件 分立器件 第15部分:绝缘功率半导体器件 | 制定 | 2020-04-01 | 正在批准 |
# | 标准号 | 标准中文名称 | 发布日期 | 实施日期 | 标准状态 |
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1 | GB/T 43493.2-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法 | 2023-12-28 | 2024-07-01 | 现行 |