# | 标准号 | 标准中文名称 | 发布日期 | 实施日期 | 标准状态 |
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1 | GB/T 14114-1993 | 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 | 1993-01-21 | 1993-08-01 | 现行 |
2 | GB/T 14115-1993 | 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 | 1993-01-21 | 1993-08-01 | 现行 |
3 | GB/T 14028-1992 | 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 | 1992-12-17 | 1993-08-01 | 废止 |
4 | GB/T 14029-1992 | 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 | 1992-12-17 | 1993-08-01 | 现行 |
5 | GB/T 14030-1992 | 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 | 1992-12-17 | 1993-08-01 | 现行 |
6 | GB/T 14031-1992 | 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 | 1992-12-17 | 1993-08-01 | 现行 |
7 | GB/T 14032-1992 | 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 | 1992-12-17 | 1993-08-01 | 现行 |
8 | GB/T 12844-1991 | 半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种 | 1991-04-28 | 1991-12-01 | 废止 |
9 | GB/T 12845-1991 | 半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压/ 频率和频率/ 电压转换器的品种 | 1991-04-28 | 1991-12-01 | 废止 |