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行业标准《半导体发光二极管芯片测试方法》由中国电子技术标准化研究所归口上报,主管部门为工业和信息化部。

主要起草单位 中国光学光电子行业协会光电器件分会 、厦门华联电子有限公司等 。

主要起草人 鲍超 、胡爱华等 。

目录

标准状态

基础信息

标准号
SJ/T 11399-2009
发布日期
2009-11-17
实施日期
2010-01-01
中国标准分类号
L45
归口单位
中国电子技术标准化研究所
主管部门
工业和信息化部
行业分类
无

备案信息

备案号:26875-2010。

备案公告: 2010年第1号 。

起草单位

起草人

鲍超
胡爱华

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