《纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。

表面增强拉曼光谱（Surface Enhanced Raman Spectroscopy，SERS）技术灵敏度极高，能在痕量浓度范围内给出关于试样的结构特征、吸附状态等方面的丰富信息，在环境检测、食品安全、生物制药等领域已显示出巨大的应用前景。

目前在食品快检领域已发展成为一项必备检测技术。

SERS技术的核心是SERS基底，其通过贵金属（金、银、铜等）纳米结构的光电场增强特性，放大被测物质的拉曼信号。

目前常见的SERS基底主要分为液相纳米溶胶和固相基片。

固相基片预先将纳米结构固定在固态基片上，具有易于修饰、无溶剂干扰的特点，在SERS信号稳定性、重现性、标准数据获取以及应用范围方面具有优势，正越来越受到市场青睐。

以固相SERS基片为基础，可以发展面向食品检测、生物医药分析等多个方向的应用检测基片，在全球范围内将产生巨大的潜在市场。

由于缺乏相关的性能评价标准，市场上的固相SERS基片质量参差不齐，难以获得市场普遍认可，阻碍了固相SERS基片的应用发展。

SERS固相基底的质量评价是SERS技术应用的关键。

因此，建立一套有效的固相SERS基片评价标准十分紧迫。

固相SERS基片评价标准最基础的质量指标之一是固相SERS基片的均匀性，其用于描述基底不同位置处的SERS活性差异。

均匀性不佳的基底不同位置处的信号差别较大，易导致测量试样的信号失真，影响测试结果的重现性和可信度。

由于缺乏相关的均匀性评价标准，目前市售固相SERS基片的实际使用体验与宣传的“均匀性良好”不符，降低了测量结果的可信度。

本标准提出利用拉曼光谱成像法来检测固相SERS基片均匀性的方法，同时给出了固相SERS基片均匀性的质量评价参考标准，有利于提高SERS检测结果的重现性和可信度。